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試驗箱GBT2423標準的組成部分(下節)
2016-09-08 09:22    來源:www.localvinacular.com 作者:艾思荔   瀏覽次數:

  

  GB/T 2423.32-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ta:潤濕稱量法可焊性

  GB/T 2423.33-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗

  GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度驗合循環試驗

  GB/T 2423.35-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

  GB/T 2423.36-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

  GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T 2423.38-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則

  GB/T 2423.39-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ee:彈跳

  GB/T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

  GB/T 2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程 風壓試驗方法

  GB/T 2423.42-1995 電工電子產品環境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

  GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝

  GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序

  GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振

  GB/T 2423.48-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動-時間歷程法

  GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動-正弦拍頻法

  GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

  GB/T 2423.51-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動混合氣候腐蝕試驗

  GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗77:結構強度與撞擊

  GB/T 2423.53-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XB:由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損

  GB/T 2423.54-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Xc:液體污染

  GB/T 2423.55-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eh:錘擊試驗

  GB/T 2423.56-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數字控制)和導則

  GB/T 2423.57-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ei:沖擊 沖擊響應譜合成

  GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 傾斜和搖擺

  GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合



標簽:冷熱沖擊試驗機(6)恒溫恒濕試驗箱(17)高低溫試驗箱(13)

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